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PN结物理特性实验仪

简要描述：本实验设备采用微电流源为PN结供应正向电流,并通过调整电流大小,获取PN结两端的正向压降值。同时,本设备配备了温度控制系统,用于测量在不同温度条件下PN结的伏安特性曲线。通过对PN结电压、电流与温度之间关系的深入研究,我们可以获得玻尔兹曼常数k、灵敏度S以及硅材料的禁带宽度等重要参数。

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详细介绍

品牌	TP/拓普	应用领域	电气

一、实验内容

1.在室温下,测绘PN 结正向电压随正向电流的变化曲线,求得玻尔兹曼常数;

2.在不同温度下,测绘PN 结正向电压随正向电流的变化曲线,求得玻尔兹曼常数;

3.恒定正向电流条件下,测绘PN 结正向压降随温度的变化曲线,计算结电压随温度变化的灵敏度。

4.计算在0K时半导体(硅)材料的禁带宽度。

二、仪器特点

1.运用数字化编码器进行精确调节,确保稳定性。

2.通过按键轻松切换测量范围,操作便捷,读数准确。

3.采用P1D调节温控,实现快速且稳定的温度调节。

三、规格参数

1.恒流源：电流输出范围:10nA—10mA;分辨率1nA;3位半数显;

2.电压表：量程:0-2.000V;3位半数显

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