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二氧化硅的红外光谱测定

简要描述：红外光谱测定二氧化硅的方法通常涉及将样品制备成适当的形式，如固体薄片、颗粒或溶液，并利用红外光谱仪进行测量。仪器通过向样品施加红外辐射，测量经过样品后未被吸收的光的强度变化。

产品型号：FTIR920
厂商性质：生产厂家
更新日期：2024-04-16
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红外光谱仪（IR 傅立叶）

红外光谱仪

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详细介绍

信噪比	15,000：1（RMS值,在2100 cm-1附近,4 cm-1分辨率,1分钟	扫描速度	2mm/S秒
分辨率	1.0cm-1	波数范围	7800-375cm-1
仪器类型	实验室型	价格区间	15万-20万
仪器种类	傅立叶变换型（FT)	应用领域	医疗卫生,化工,建材,电子,制药

　　二氧化硅是一种重要的无机材料，在红外光谱分析中具有广泛的应用。红外光谱是通过测量物质在红外辐射区域的吸收和散射来研究其分子结构和化学特性的一种方法。

　　二氧化硅的红外光谱测定主要基于其分子振动模式引起的吸收峰。在红外光谱图上，常见的吸收峰包括伸缩振动、弯曲振动和对称拉伸振动等。

　　二氧化硅的主要吸收峰位于1000-1200cm^-1的区域，这些峰代表了硅氧键的伸缩振动。此外，还存在于800-1100cm^-1范围内的Si-O-Si弯曲振动峰。这些振动模式提供了关于二氧化硅的分子结构和键合情况的信息。

　　FTIR920的软件

　　视窗软件随整套系统一并提供。此软件能满足全部标准分析的要求，包括光谱数据处理、仪器控制、多图同时预览。在干涉图或光谱的分析模型上，也能提供滤波、基线校正、交互编辑和数据操作。同时也有光谱扣除、混合扣除、滤波衍生、谱图预览等功能。数据输入和输出可以是ASCII 或JCAMP格式。其他包括Thermo/Galactic GRAMS在内的商业程序也可以使用，例如图库搜索。Interspec软件程序是在32位保护模式下编写的。我们为不同功能的应用设计了专门的软件，这些软件操作简便而且免费提供。通过添加其他商业程序，比如：搜索、成份识别、Kramers Kronig变换、化学统计等，对程序的功能进行扩展,从而满足个别需求。

　　二氧化硅的红外光谱测定的方法通常涉及将样品制备成适当的形式，如固体薄片、颗粒或溶液，并利用红外光谱仪进行测量。仪器通过向样品施加红外辐射，测量经过样品后未被吸收的光的强度变化。

　　在进行红外光谱测定时，需要注意一些因素。首先，样品应该足够纯净，以避免其他杂质对光谱结果的影响。其次，在选择红外辐射源和检测器时，应根据所需的波长范围和灵敏度进行合理选择。此外，还需要校准仪器，并使用适当的参考物质进行光谱数据的分析和解释。

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